最后一個(gè)階段就是可靠性測(cè)試，主要就是針對(duì)芯片施加各種苛刻環(huán)境，比如esd靜電，就是模擬人體或模擬工業(yè)體去給芯片加瞬間大電壓，然后在高溫下加速芯片老化，估算芯片的壽命。
可靠性測(cè)試需要時(shí)間比較長(zhǎng)，全套流程下來(lái)，至少需要3~5天的時(shí)間，而段云現(xiàn)在主要就是查看板級(jí)測(cè)試以及晶圓CP測(cè)試的結(jié)果。
而今晚的測(cè)試結(jié)果確實(shí)沒(méi)讓段云失望，在40分鐘的測(cè)試時(shí)間里，第2代的NAND閃存芯片各項(xiàng)指標(biāo)都非常的良好，完全符合設(shè)計(jì)的要求。
雖然還沒(méi)有完成最終的可靠性測(cè)試，但是走到這一步，已經(jīng)算是基本成功了，如果可靠性沒(méi)有問(wèn)題的話，那么一微米制程的NAND閃存芯片就算是研發(fā)成功了。
測(cè)試臺(tái)上，Pcd版模擬器燈光閃動(dòng)，在旁邊的顯示器上，很快就出現(xiàn)了一排排的參數(shù)，數(shù)字小幅度來(lái)回波動(dòng)，顯示一切正常。
“沒(méi)問(wèn)題，成了……”此時(shí)的黃令儀雖然表情平靜，但是內(nèi)心卻非常的激動(dòng)，控制數(shù)據(jù)臺(tái)的手指也有些微微顫抖。
“祝賀大家！”到了這一刻，短語(yǔ)的臉上也露出了笑容，和參與測(cè)試的幾個(gè)工程師挨個(gè)握手。
一時(shí)間，實(shí)驗(yàn)室中想起了熱烈的掌聲，每個(gè)人的臉上都洋溢著笑容，為了今天這一刻，很多人付出了非常大的心血，而他們也創(chuàng)造了一個(gè)奇跡，將摩爾定律整整壓縮了一半時(shí)間。
“今晚大家回去好好睡一覺(jué)，明天下午我會(huì)安排一個(gè)表彰會(huì)，對(duì)大家承諾的獎(jiǎng)金我都會(huì)現(xiàn)場(chǎng)兌現(xiàn)。”段云對(duì)眾人說(shuō)了一句，然后轉(zhuǎn)頭看向黃令儀，對(duì)她說(shuō)道：“你的下一個(gè)任務(wù)就是把論文寫出來(lái)，我會(huì)先將這項(xiàng)技術(shù)申請(qǐng)國(guó)際專利，等專利進(jìn)入審核程序后，你的文章就可以發(fā)表了……”
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